[1] 胡庚，王红，杨士元. 非线性模拟电路的故障诊断方法. 计算机辅助设计与图形学报，2009, Vol.21,No.1,1-5。
[2] Hu Geng, Wang Hong, Yang Shiyuan. Combined Self-Test of Analog Portion and ADCs in Integrated Mixed-Signal Circuits. IEICE Trans. on Information and System, 2008, Vol.E91_D, No.8, August,2134-2140。
[3] 胡梅，王红，杨士元，胡庚. 基于电压增量的非线性模拟电路软故障诊断. 系统工程与电子技术, 2008, Vol.30, No.2,379-383 Reliability, 46(2006), p1199-1208。
[4] 成本茂，王红，杨士元，牛道恒，靳洋. 基于可测性分析的高层次寄存器分配算法.东南大学学报（自然科学版）2008, Vol.38, No.3, 396-400。
[5] 牛道恒，王红，杨士元. 序列对递增生成的SOC测试调度算法. 北京邮电大学学报, 2007, 10, Vol.30, No.5,19-23。
[6] Niu Daoheng, Wang Hong, Yang Shiyuan. Relation-Matrix approach for sequence pair decoding. Journal of Information and Computational Science, 2007, 7, Vol.4, No.2,643-650。
[7] Niu Daoheng, Wang Hong, Yang Shiyuan. Re-Optimization Algorithm for SoC Wrapper-Chain Balance Using Mean-Value Approximation. Tsinghua Science and Technology, Vol.12, No.S1, July 2007,61-66。
[8] Hu Mei, Wang Hong, Hu Geng, Yang Shiyuan. Soft Fault Diagnosis for Analog Circuits Based on Slope Fault Feature and BP Neural Networks. Tsinghua Science and Technology, Vol.12, No.S1, July 2007,26-31。
[9] 邢建辉，王红，杨士元，成本茂. 构造SoC级透明路径的0-1规划方法.清华大学学报（自然科学版），2007,01,Vol.47,No.1，147-149,153。
[10] 王红，成本茂，杨士元. 一种非同步时序电路的测试生成方案. 电子科技大学学报，2007,Vo1.36,No.4, 733-736。
[11] Xing Jian-hui, Wang Hong, Yang Shi-yuan. Constructing Transparency Paths for IP Cores Using Greedy Search. Microelectronics Reliability，2006, Vol.46, No.7, 1199-1208。
[12] 吴超, 王红, 杨士元. SoC测试集成的研究环境构建. 计算机辅助设计与图形学学报，2006, Vo1.18,No.7, 988-993。
[13] 吴超，王红，杨士元. 基于复用的SOC测试集成和IEEE P1500标准. 微电子学，2005，35(3), 240-245。
[14] Wang Hong, Xing Jian-hui,Yang Shi-yuan. A Test generation Approach For Non-Synchronous Sequential Circuit. In Proc. Of 7th Electronic Measurement & Instruments，2005, Vol.1, 475-480。
[15] Xing Jian-hui, Wang Hong, Yang Shi-yuan. Constructing Transparency Paths for IP Cores Using Greedy Searching Strategy. In Proc.of IEEE Asian Test Symposium, Taiwan, Nov. 2004, 14-19。
[16] 王红，邢建辉，杨士元. 基于复用的SOC测试技术.半导体技术，